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                • 在大多数的失效分析案例中电子子元】件内部电路与地(GND)或不同電位贴之简形成短路,产生过点流而造成原件ぷ损坏为大多数电子元件失效的主要因素。静电可以定义为累积在材...
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                • 一般常用的◤开封方法有化学开封、机械开封、激光开封,Decap实验室可以处理几乎所有的IC封装形式,键合线类型█(Au、Cu、Ag、Al)。针对不同的键合线类型有不◣...
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                • 华南检测可进行多种□ 环境可靠性测试,如冷热△冲击、高低温贮存、恒温恒湿、盐雾试验、震动试验、跌落试验、ESD静电●试验等,可根据客户需求,提供中英文专业报告,作为独立...
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                • 广东省华南检测科技有限♀公司,专注于各项技术检测工作,3DXRAY检测?、无损检测,失效分析、材料分析检▓测、芯片鉴定、芯片线路修改、晶圆微结构分析、可靠性≡检测、逆...
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                • ?失效分析是判断产品的失效模式 ,查找产品失效机理和原 因,提出预防再失效对策的技术活动和管理活动。失效分析对于提高产品质量 ,确保电子元器件的可靠性至关重要。...
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                • 微纳米CT即微纳米焦点CT,指的就〓是该类CT设备的X-ray射线焦点尺寸为微纳米级的,相对常规工业CT设备源焦点尺寸的≡1-4mm而言,有着更高的缺陷检测灵敏度、...
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                • 显微CT一般指的是●微型CT,通常采用锥形X线束,不仅能够获得真正各向同性的容积图像,提高空〒间分辨率,提高射线利用率,而且在采集相同3D图像时速度远远快于扇形束C...
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                • 聚焦离子∞束(focused ion beam,FIB)技术应用于不同领域中的微纳结构制造中,利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的▃离子束轰击材料表面,实现材料的剥...
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                • 扫描电子显微镜?其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目...
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                • DPA分析可验证︽元器件的设计、结构、材料和制造质量是否满足预定用途或〓有关规范的要求,按元器件的生∩产批次进行抽样,对元器件样品进行非破坏性分析和破坏性分析的一系列...
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                • 工业CT是利用放射性核素或其他辐射源发射出的、具有一定能量和强度的X射线或γ射线,在被检测物体中的衰减规律及分布情况,就有可能由探测器陈列获得物体内部的详细信息...
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                • 金属失效分析在后续的工程应用当中十分重◤要,能够在应用前提前预知一部分可能会出现的事故风险,确认材料和设备的性能是否会出现一部分的□问题。金属的失效形式和失效的原因...
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