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                表面形貌观测介绍

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                表面形貌观察与测量的意义

                ①材料表面的★微观几何形貌特性在很大程度上影响着它的许多技术性能和使用功能ζ。

                ②观察材料表面形貌,为研究样〖品形态结构提供了便利,有助于监控产品质量,改善工艺。


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                表面形貌观测应用范围

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                材料、电子、无铅焊接、机械加工、半导体√制造、航空、汽车、陶瓷品、地质学、医学、冶金等。


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                表面形貌观Ψ测手段

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                1、扫描∮电子显微镜进行形貌观察的主要内容是★分析材料的几何形貌、材料的颗粒度及颗粒度的分布、物相的【结构等。

                2、光学显微镜主要应用于工装检具、金属件等的检定,电子「产品组装、偏移、焊接※异常检验,PCB/PCBA线路、防焊、孔、零件对准度以及文字图形缺陷检验。

                3、AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是▆应用范围广,可用于表面观察、尺寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解╲析、突起与凹坑的统计①处理、成膜条件评价、保护层的尺寸台阶测定、层间绝缘膜的平整ω 度评价、VCD涂层评价、定向薄膜的摩擦处理过程的评价、缺陷分析等。在飞秒检测做AFM测试对样品有◎以下几点要求:(1)对象可以是有机固体、聚合物以及生 物大分子等。(2)样品大小一般不超过 1cm,高度也应控制在卐 1cm 以下,样々品表面起伏不超过 15μm。(3)测试薄膜厚度应控制在 15μm 以下。

                4、轮廓测量仪是对物体的轮廓、二维尺寸、二维位移进行测试与检◤验的仪器。


                检测标准

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                常用标准(部分)

                JYT 010-1996 分析型扫描电子︼显微镜方法通则;

                GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则;

                IPC-6012 刚性印制板的鉴定△及性能规范;

                IPC-A-610电子组件的可接受性;

                JIS B 0601-2013产品几▃何量技术规范(GPS)表面结构轮廓法.术语、定义和←表面结构参数。


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